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先進的非破壞性電性故障定位設備


以直接快速地透過IC正面或背面來找出缺陷所在位置。它利用高靈敏度的中紅外探測器在IC通電情況下探測缺陷位置熱輻射的分布,以此定位失效點。


除了IC與Package以外,鎖相紅外顯微鏡還可應用于大面積的產品,如PCB、面板等。




LUXET Thermo 100制冷型中紅外顯微系統特色:


? 具有市場上*高靈敏度的熱源偵測系統
? 鎖相功能,大幅提高信噪比
? 熱靈敏度0.1mK
? 快速交付


LUXET Thermo 100制冷型中紅外顯微系統規格:

高電壓范圍
3000V
高電流范圍
3A
鎖相幀頻 1Hz-25Hz
鏡頭組合 1x,2x,8x,廣角,可定制
廣角范圍
33mm * 26mm


相關案例:
失效器件一





IC影像+Thermal Emission
(高閾值熱點顯示)
IC影像+Thermal Emission
(低閾值)
振幅圖
失效器件二


IC影像+Thermal Emission

振幅圖


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